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日本朝日分光asahi-spectra光學(xué)膜厚儀

日本朝日分光asahi-spectra光學(xué)膜厚儀

產(chǎn)品型號： OMD-1000

所屬分類：光源

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-07

簡要描述：日本朝日分光asahi-spectra光學(xué)膜厚儀OMD-1000
這是一臺(tái)光譜膜厚監(jiān)測儀，用于監(jiān)測在用單色光進(jìn)行氣相沉積過程中基板上的光量變化。它也用在我們自己的氣相沉積設(shè)備中，并作為膜厚監(jiān)測設(shè)備完成，該設(shè)備具有氣相沉積零件制造商的專有技術(shù)。

詳細(xì)說明：

日本朝日分光asahi-spectra光學(xué)膜厚儀OMD-1000

 

這是一臺(tái)光譜膜厚監(jiān)測儀，用于監(jiān)測在用單色光進(jìn)行氣相沉積過程中基板上的光量變化。它也用在我們自己的氣相沉積設(shè)備中，并作為膜厚監(jiān)測設(shè)備完成，該設(shè)備具有氣相沉積零件制造商的專有技術(shù)。

全波長范圍

在傳統(tǒng)型號中，波長選擇是濾光片類型，但是新產(chǎn)品結(jié)合了我們成熟的光譜儀，現(xiàn)在可以選擇任何波長。
膜厚變化的信號是從電壓輸出到與個(gè)人計(jì)算機(jī)兼容的數(shù)字輸出，控制機(jī)制是從手動(dòng)操作到個(gè)人計(jì)算機(jī)的命令控制。此外，通過將薄膜厚度計(jì)主體通過I / F直接連接到個(gè)人計(jì)算機(jī)來控制其厚度成為可能，這是一個(gè)非常緊湊的系統(tǒng)，無需像其他制造商一樣具有控制器。

特征

  • 分光鏡設(shè)計(jì)緊湊
  • 通過提高抗噪聲性（靜電放電測試耐受電壓±5 kV）實(shí)現(xiàn)高度可靠的膜厚度監(jiān)控
  • 可以通過PC上的命令自動(dòng)控制
  • 通過將控制器合并到接收器主體中來實(shí)現(xiàn)高性價(jià)比

日本朝日分光asahi-spectra光學(xué)膜厚儀OMD-1000

產(chǎn)品規(guī)格

模型OMD-1000
光譜儀類型Zellny Turner類型單單色
波長范圍保證范圍：380至900 nm可操作
范圍：350至1100 nm
波長分辨率狹縫0.5mm：4.2nm [546nm]
狹縫1.0mm：8.3nm [546nm]
波長精度±1.0納米
小波長進(jìn)給0.1納米
外部控制RS232C
外部輸出端子DC0-2V（滿量程）
采樣間隔100ms以上
靜電放電試驗(yàn)?zāi)碗妷?/td>±5kV（實(shí)際8kV）
光源12V100W鹵素?zé)?/td>
光強(qiáng)度穩(wěn)定性±0.1％/ h以下
輸入電壓AC100V 50/60赫茲
允許輸入電壓AC85-132V
視在功率340VA以下
使用環(huán)境溫度10-35℃
濕度20-80％


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