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日本topcon-techno近紅外分光輻射計SR-NIR

日本topcon-techno近紅外分光輻射計SR-NIR

產(chǎn)品型號：

所屬分類：光源

產(chǎn)品時間：2024-09-07

簡要描述：日本topcon-techno近紅外分光輻射計SR-NIR
近年來，在顯示器及照明市場上，對“近紅外領(lǐng)域"的測定需求日漸增多。
之前，行業(yè)內(nèi)并沒有一款能夠簡便且高精度測定近紅外光的相關(guān)儀器。

詳細說明：

日本topcon-techno近紅外分光輻射計SR-NIR

 

產(chǎn)品概要

近年來，在顯示器及照明市場上，對“近紅外領(lǐng)域”的測定需求日漸增多。
之前，行業(yè)內(nèi)并沒有一款能夠簡便且高精度測定近紅外光的相關(guān)儀器。
TOPCON在通過開發(fā)生產(chǎn)SR系列分光輻射度計所培育并積累起來的技術(shù)基礎(chǔ)之上，
開發(fā)出了“SR-NIR近紅外分光輻射度計”。
本產(chǎn)品和其他型號的SR系列分光輻射度計一并使用，能夠測定380nm-1030nm的分光輻射亮度。

特點

? 能測定從FPD到微弱發(fā)光的近紅外領(lǐng)域。
? 高精度測定近紅外領(lǐng)域(600～1030nm)的分光分布。
? 和本公司其他型號的分光輻射度計一并使用時，能夠測定可見光～近紅外光（380～1030nm）的分光分布。

主要用途

? 觀察各類FPD的近紅外領(lǐng)域的輸出。
? 觀察Ne、Ar的光譜線輸出。
? 光學(xué)膜等的近紅外透過特性評價。
? 其他光源的近紅外分光測量

日本topcon-techno近紅外分光輻射計SR-NIR

技術(shù)規(guī)格

光亮采集電子冷卻型線性陣列傳感器
波長分散原理衍射光柵
光學(xué)系統(tǒng)對物鏡 : f= 82mm F2.5, 目鏡 : 觀測視野 5°
測定角2°/1°/0.2°/0.1° (電動切換式)
小測定直徑(mmφ)2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50 (mmφ)
測定距離350mm – ∞ (從物鏡金屬件前端開始的距離)
測定波長范圍600 – 1030nm
光譜波寬6 – 8nm (半波寬)
波長分解能力1nm
測定模式自動/手動 (積分時間/頻率）、外部垂直同步信號輸入
測定內(nèi)容分光輻射亮度 : W?sr-1?m-2?nm-1
測定范圍(*1)2.0° : 0.5 – 3,000 cd/m2
1.0° : 　1 – 9,000 cd/m2
0.2° : 20 – 70,000 cd/m2
0.1° : 100 – 300,000 cd/m2
重復(fù)精度(*2)±2% 以下
偏光特性分光輻射亮度　5％ 以下
校正基準本公司校正基準*標準A光源、23℃±3℃、65% RH以下
測定時間(*3)約 1 – 31 秒
界面RS-232C, USB 2.0
電源AC電源適配器 AC100V-240V, 50/60Hz,
功率約 34W
使用條件溫度: 5 – 35℃, 濕度: 80%RH 以下 (且無凝露)
外形尺寸(W×D×H)150×406×239mm
質(zhì)量約 5.5kg

*1 本產(chǎn)品不測定亮度。記錄針對標準A光源的參考值
*2 600～1030nm 針對本公司基準光源
*3 E和PC的通信時間除外



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