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對(duì)10μm以上粗顆粒進(jìn)行分類(lèi)和計(jì)數(shù)的落塵計(jì)數(shù)器DTSP10-03介紹
即使在無(wú)塵室中工作,異物的量也沒(méi)有減少。
盡管它是使用粒子計(jì)數(shù)器進(jìn)行管理的,但不可能將其與缺陷關(guān)聯(lián)起來(lái)。
我想創(chuàng)造一個(gè)干凈的環(huán)境,但不知道如何管理。
我們很難處理從衣服等引入的異物。
如果您想減少產(chǎn)品上附著的異物量,則應(yīng)使用落塵計(jì)數(shù)器而不是顆粒計(jì)數(shù)器進(jìn)行測(cè)量。
原因是:
① 導(dǎo)致附著異物的粗顆粒較大,范圍為 10 μm 至 100 μm,無(wú)法用顆粒計(jì)數(shù)器測(cè)量。
② 大顆粒不會(huì)漂浮在空氣中,而是沉降并成為落塵。
上面提到了兩個(gè)。
因此,通過(guò)測(cè)量落下的灰塵而不是空氣中微小的漂浮灰塵,可以管理附著的異物。
這是一種特殊的測(cè)量裝置,可以測(cè)量掉落的粗顆粒而不是漂浮的灰塵。
利用樣品收集板(4英寸硅片),利用粗顆粒的沉降特性,對(duì)下落的10μm以上的粗顆粒進(jìn)行分級(jí)計(jì)數(shù)。
它可以在任何可以放置硅晶圓的地方進(jìn)行評(píng)估。
*硅晶片:圓盤(pán)狀樣品板,是表面平整度和耐熱性優(yōu)異的半導(dǎo)體基板。
對(duì)于頭發(fā)等100μm以上的異物,由于其形狀和重量,不適合使用硅片作為樣品。
建議使用“DUSCAR®100 BLACK"來(lái)調(diào)查較大的異物。
DTSP10-03 | ||
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最小可測(cè)量粒徑 | 10μm | |
粒度分級(jí) | 10μm、30μm、50μm、100μm 可在11~99μm范圍內(nèi)任意設(shè)定值*3) | |
兼容晶圓尺寸 | 4英寸 | 2英寸*4) |
最大測(cè)量面積 | φ80mm | φ30mm |
修剪功能 | 是的 | 沒(méi)有任何 |
顯示切換 | 有(可單獨(dú)顯示) |
*3) 任意分類(lèi)設(shè)定的閾值是從校準(zhǔn)曲線中獲得的值,無(wú)法保證計(jì)數(shù)效率。
*4) 僅在 4 英寸區(qū)域內(nèi)保證計(jì)數(shù)效率,對(duì)于 2 英寸區(qū)域無(wú)法保證計(jì)數(shù)效率,計(jì)數(shù)效率受到限制。