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銅箔/鋁箔針孔檢測(cè)設(shè)備介紹
鋁箔是很薄的鋁,根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)組織定義:厚度范圍從0.2mm到極限的0.006 mm。鋁箔的制造過(guò)程,從2mm和4mm板材中軋制處理,在此過(guò)程中的鋁胚料,依次冷軋,直到線圈達(dá)到所需的厚度。鋁箔對(duì)光、氧氣、味道、水分、細(xì)菌有很好的隔絕性能,它廣泛用于食品和藥品包裝。在雙軋機(jī)過(guò)程中,同時(shí)分離的兩個(gè)箔,可以得到很薄的箔(厚度范圍從6到30µm)。
由于薄箔的微滲透、生產(chǎn)環(huán)境等原因,生產(chǎn)過(guò)程中難免會(huì)造成的針孔。傳統(tǒng)做法是,在復(fù)卷的過(guò)程中,安排人工對(duì)這些針孔檢測(cè);但是由于人眼會(huì)產(chǎn)生疲勞、人眼分辨率有限、人工成本過(guò)高等原因,并不能對(duì)箔100%目視檢測(cè)。為了檢測(cè)這些缺陷,許多鋁箔廠商使用了自動(dòng)檢測(cè)儀。
左圖為包裝針孔檢查裝置的檢查概要。
當(dāng)包裝件通過(guò)測(cè)試電極下方時(shí),如果檢測(cè)到針孔或密封缺陷,則測(cè)試電極和內(nèi)容物之間以及接地電極和內(nèi)容物之間都會(huì)發(fā)生放電。
該裝置檢測(cè)有無(wú)這種放電,并確定包裝產(chǎn)品是否有針孔。
圖4是用電氣等效電路代替針孔檢查的示意圖。
C1是測(cè)試電極和內(nèi)容物之間形成的電容,C2是接地電極和內(nèi)容物之間形成的電容。R是內(nèi)容物的電阻。
如果接地電極做得比測(cè)試電極大,并且電極結(jié)構(gòu)使得C2的阻抗與C1相比可以忽略不計(jì),則可以將其視為C1和R的串聯(lián)電路,如圖5所示。
此外,如果內(nèi)容物具有導(dǎo)電性且可以忽略電阻,則電路結(jié)構(gòu)將與前一節(jié)的圖3相同,從而可以進(jìn)行穩(wěn)定的針孔檢查。
如果在電極之間施加電壓,該電壓破壞了空氣絕緣性而不破壞包裝材料,則如果包裝材料中存在針孔或密封不良,就會(huì)發(fā)生放電。通過(guò)檢測(cè)該放電的有無(wú),可以判斷產(chǎn)品是否有針孔。
使用高壓放電法對(duì)包裝產(chǎn)品進(jìn)行針孔檢查是由施加在電極之間的電壓(施加電壓)、包裝材料的介電強(qiáng)度以及內(nèi)容物的電氣特性和形狀決定的。因此,進(jìn)行針孔檢查時(shí)必須滿足以下條件。
1 包裝材料的特性
包裝材料必須具有高的電絕緣性和足夠大的耐壓強(qiáng)度以適應(yīng)試驗(yàn)電壓。
■ 絕緣不良可能會(huì)導(dǎo)致誤檢測(cè)。
■ 如果邊緣強(qiáng)度較低,則可能會(huì)破壞健康的包裝材料。
2 內(nèi)容物條件
內(nèi)容物必須是良導(dǎo)體并填充在包裝材料內(nèi)。
■ 即使內(nèi)容物具有導(dǎo)電性,如果其電阻較高,也可能無(wú)法進(jìn)行針孔檢查。
■ 根據(jù)產(chǎn)品的形狀、內(nèi)容物的形狀和特性、包裝條件等,可能無(wú)法進(jìn)行針孔檢查。
請(qǐng)聯(lián)系我們了解是否可以進(jìn)行檢查。
采用高壓放電針孔檢測(cè),在灌裝前對(duì)絕緣材料(塑料蓋、塑料瓶、玻璃瓶、陶瓷)等的針孔缺陷進(jìn)行非接觸式檢查。
具有5至30kV的寬可變電壓范圍,可用于檢測(cè)瓶蓋、薄膜等各種產(chǎn)品。
*可以通過(guò)更改規(guī)格來(lái)適應(yīng)使用上述以外的電壓。
請(qǐng)聯(lián)系我們。
可以集成到自動(dòng)化機(jī)器中的多功能型
穩(wěn)定,適合高速檢測(cè)
除了自診斷電路、高壓線斷線檢測(cè)、
采用外部測(cè)試電壓輸出(4-20mA)等,大大提高了可靠性。