薄膜材料不均勻光斑檢測技術(shù)

發(fā)布時間：2022-05-05　點擊量：734

薄膜材料不均勻光斑檢測技術(shù)

材料檢測裝置M-CAP V2是充分利用圖像處理技術(shù)開發(fā)的平原地面外觀檢測裝置。在保持傳統(tǒng)易用性的同時，實現(xiàn)了更高的速度和更高的分辨率。除了檢測針孔、異物污染和污垢附著等小缺陷外，我們不會忽略薄膜材料上的不均勻、條紋和劃痕等難以區(qū)分的缺陷。

無論安裝位置如何，都可以靈活布局
取消了一體機的主體控制面板，由各功能的組件構(gòu)成。
它提高了安裝的自由度，有助于有效利用工廠空間。
追求用戶友好的易用性
采用液晶顯示器和易于使用的對話方式，操作簡單。
更新成像系統(tǒng)以實現(xiàn)高速和高分辨率通過
采用新開發(fā)的數(shù)碼相機，實現(xiàn)了高速傳輸過程中清晰的圖像和微小缺陷的檢測。
標(biāo)配
原裝 LED 照明燈采用實現(xiàn)高亮度和高顯色性的 LED 照明燈。
也可以選擇魚眼（凝膠）和黑點，由于特殊的結(jié)構(gòu)很難判斷。
即使
放大有缺陷的圖像也能清晰顯示通過利用人工智能的超分辨率技術(shù)，即使放大和顯示有缺陷的圖像，圖像也不會變得粗糙。
通過廣泛的數(shù)據(jù)管理進行有效的質(zhì)量控制
可以實時匯總每列和距離的缺陷數(shù)量，并且可以將數(shù)據(jù)輸出為 PDF 文件。
它還通過網(wǎng)絡(luò)支持?jǐn)?shù)據(jù)管理功能，有助于提高質(zhì)量控制效率和生產(chǎn)力。
檢查功能的顯著擴展
通過同時檢查多達 5 個電路工藝，大大提高了檢查性能。
線性缺陷檢測電路增強了對皺紋、薄膜裂紋、毛發(fā)、絨毛等的檢測。
此外，光缺陷檢測電路增強了對大面積光斑和不均勻光斑的檢測。